測試模式：熒光、反射、透射等。

主要參數(shù)：

• 空間分辨<1微米，
• 角度分辨0.1度，角度范圍-30度-+30度，
• 光譜測量范圍300nm-1000nm。

• 研究級光學顯微鏡，CCD相機進行樣品成像觀測
• 手動/自動XYZ樣品臺
• 多種激光器，光譜儀以及探測器選項

產品優(yōu)勢：

• 開放式光路設計，自由靈活定制，以滿足不同應用的需求
• 角度分辨一次成像，快速獲得測試結果
• 操作簡便，無需復雜的測試流程及培訓，輕松上手
• 擴展性強，暗場、低溫、電學、磁場等各種附件的升級通道。